輻射抗擾度測(cè)試試驗(yàn)不合格有兩種可能性

更新時(shí)間：2021-12-16

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　　抗擾度是指裝置、設(shè)備或系統(tǒng)面臨電磁騷擾不降低運(yùn)行的能力。設(shè)備的抗擾度測(cè)試又稱為設(shè)備的敏感度測(cè)試(EMS)，目的是測(cè)試設(shè)備承受各種電磁騷擾的能力。當(dāng)設(shè)備由于受到騷擾影響而性能下降時(shí)其性能判據(jù)可分為4級(jí)。

　　輻射抗擾度測(cè)試在測(cè)量中，所關(guān)心的是一些敏感設(shè)備在遇到輻射或傳導(dǎo)干擾的影響是，敏感設(shè)備的工作狀態(tài)會(huì)發(fā)生怎么樣的變化。在試驗(yàn)中，通過(guò)測(cè)試設(shè)備將這些干擾模擬出來(lái)，再通過(guò)一些測(cè)試附加件，例如天線或傳導(dǎo)注入所用的耦合部件等，講上述干擾施加給EUT。EUT的工作狀況根據(jù)其特點(diǎn)選擇合適的方式進(jìn)行監(jiān)測(cè)。敏感性測(cè)量關(guān)注的是EUT剛呈現(xiàn)性能降低時(shí)，外部施加干擾量的描述;抗干擾度關(guān)注的是即將出現(xiàn)性能降低時(shí)，外部施加干擾量的描述。

　　對(duì)于限值的測(cè)量，可能不需要測(cè)量實(shí)際的抗擾度電平，只要知道EUT是否滿足限值就足夠了。可將無(wú)用信號(hào)保持在某個(gè)限值電平上，而不是每個(gè)試驗(yàn)頻率，上做調(diào)節(jié)，并在整個(gè)試驗(yàn)范圍內(nèi)做頻率掃描。如果在任何時(shí)刻，無(wú)論是客觀上還是主觀上均未觀察到性能降低，則認(rèn)為EUT滿足該限值。這種方法通常稱為“ 合格/不合格’試驗(yàn)法。

　　輻射抗擾度測(cè)試試驗(yàn)不合格有兩種可能性：

　　1.設(shè)備外殼的屏蔽性能不完善；

　　2.射頻干擾經(jīng)由電源線和其他線纜進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部。

　　判斷辦法：拔掉不必要的電線和電源插頭,繼續(xù)做試驗(yàn)，如果沒(méi)有任何改善跡象，則應(yīng)當(dāng)懷疑是設(shè)備外殼屏蔽性能不完善;如果有所改善,則有可能是線纜的問(wèn)題。如果針對(duì)以上兩種可能，采取了必要措施，仍然沒(méi)有任何改進(jìn)，則有可能是設(shè)備上余下線纜的問(wèn)題

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